在過去五十多年中，從肖克萊等人發明第一個晶體管到超大規模集成電路出現，硅半導體工藝取得了一系列重大突破，使得以硅材料為主體的CMOS集成電路制造技術為主流，逐漸成為性能價格比最優異、應用最廣泛的集成電路產業。
如果說在亞微米/深亞微米(Sub-Micron)時代，器件的主要bottleneck在熱載流子效應(HCE: Hot Carrier Effect)以及短溝道效應(SCE: Short Channel Effect)。那么在納米(or Sub-0.1um)時代，隨著器件特征尺寸的縮小，器件內部pn結之間以及器件與器件之間通過襯底的相互作用愈來愈嚴重，出現了一系列材料、器件物理、器件結構和工藝技術等方面的新問題，使得亞0.1微米硅集成電路的集成度、可靠性以及電路的性能價格比受到影響。這些問題主要包括：
(1) 體硅CMOS電路的寄生可控硅閂鎖效應以及體硅器件在宇宙射線輻照環境中出現的軟失效效應等使電路的可靠性降低；
(2) 隨著器件尺寸的縮小，體硅CMOS器件的各種多維及非線性效應如表面能級量子化效應、隧穿效應、短溝道效應、窄溝道效應、漏感應勢壘降低效應、熱載流子效應、亞閾值電導效應、速度飽和效應、速度過沖效應等變得十分顯著，影響了器件性能的進一步改善；
(3) 器件之間隔離區所占的芯片面積隨器件尺寸的減小相對增大，使得寄生電容增加，互連線延長，影響了集成度及速度的提高。
雖然深槽隔離（STI->DTI, Deep Trench Isolation)、電子束刻蝕、硅化物、中間禁帶柵電極等工藝技術能夠降低這種效應，但是只要PN結存在就會有耗盡區，只要有Well就會有襯底漏電，所以根本無法解決。所以絕緣襯底上硅(Silicon-On-Insulator，簡稱SOI)技術以其獨特的材料結構有效地克服了體硅材料不足，以前最早是在well底部做一個oxide隔離層，業界稱之為BOX (Buried OXide)，隔離了well的bulk的漏電，但是這種PN結依然在well里面，所以PN結電容和結漏電還是無法解決，這種結構我們稱之為部分耗盡型SOI (PD-SOI)。后來繼續演進發展到減薄oxide上面的Silicon厚度(UTSi: Ultra-Thin Si)，使得它和PN結深度一樣，這樣PN結底部的耗盡層就不見了，這就是傳說中的全耗盡型SOI (FD-SOI)。目前，主流的納米制程技術都必須要采用FD-SOI技術，比如最近IBM的7nm技術就是要用SOI加上SiGe來抑制short channel effect。
講到SOI，最早的前身應該是SOS(Silicon on Sapphire, 藍寶石上硅)，那個年代主要用于宇宙航天等電子器件(Satellite system)，防止宇宙射線照射(radiation)導致器件失效，為啥用藍寶石主要是因為它是一種氧化鋁單晶結構，可以用它的(1-102)晶面上用異質外延方法生長一層外延層單晶硅。但是由于價格太貴無法民用商業化(commercial)，后來到1980年代逐漸被SOI取代。
所以，如何在BOX(Buried OXide)上長一個Si來形成SOI wafer是一個技術挑戰，我們前面講了如果要形成單晶層你的底部必須是單晶，如果SOS當然也可以，如果是Oxide肯定就不行了。怎么辦？如何制備SOI wafer？業界了解到的就如下三種：
1) 注氧隔離 (SIMOX: Separation by Implantation of Oxygen)，通過高劑量(~E18 氧離子/cm2)的氧離子通過高能量(200KeV)注入到Si下面，然后通過Post implant anneal來反應形成~400nm的BOX (Buried OXide)。
SIMOX做出來的SOI具有比較好的BOX均勻性，能夠通過注入能量控制BOX上面Si的厚度。但是注入退火的溫度影響Si的微結構(microstructure)。所以退火溫度一般選擇~600C。
還有個問題是BOX厚度太薄會導致SOI與襯底擊穿短路，起不到隔離效果，所以需要一道Internal OXide (ITOX)來長一層OX (~1350C)，而一部分氧會穿過Si進入到Si/BOX界面反應生成ITOX來提高BOX厚度。
2) 鍵合法(Wafer bonding/mounting)：將兩個氧化的Si晶片鍵合在一起，通過后續的熱處理減小鍵合應力。也叫layer transfer。
3) Smart Curt法：大家自己百度吧。
SOI的制程會帶來很多優點，如減小短溝效應(SCE)、減小亞閾值漏電(subthreshold leakage, off-current)、提高飽和電流(on-current)，所以它能提供了更高速(結電容變小)、低功耗的性能(低漏電)。當然SOI也有它固有的寄生特性：
1) 最典型的為kink-effect，也叫作floating-body effect (浮體效應)，因為SOI的well都是floating在substrate里面，所以它的well是沒有接電壓的，當漏極的反偏pn結流過電流時，會使硅外延層的電位提高，從而增加了溝道電導，故隨著漏電壓的增大，漏電流也增大，形成非飽和特性，從而降低了漏極擊穿電壓性能(https://en.wikipedia.org/wiki/Floating_body_effect)。而且浮體效應會導致閾值電壓的浮動、記憶效應、遲滯效應等一些列問題。當然襯底接出會解決這個問題，但是會增加面積以及增加體電阻。
2) 其次就是自加熱效應(self-heating effect)，因為我們底部和周邊都是用Oxide隔離(DTI和BOX)，而oxide的導熱性不好，所以載流子碰撞產生的熱量被聚集在well里，會減小載流子壽命。在Id-Vd特性曲線里飽和區曲線會略微下降，而不是微微上升。(自己google或baidu吧)
PD-SOI和FD-SOI的區別？為啥不直接用FD-SOI技術？
因為FD-SOI的開啟電壓對BOX上的Si厚度非常敏感(10mV/nm)，所以在特定的領域還是會使用PD-SOI來解決Vt的variation問題。但是FD-SOI的Subthreshold亞閾值特性比PD-SOI好很多(<65mv>
現在很多8寸的0.18um/0.13um以下的BCD和RF制程已經開始導入SOI制程平臺或SOC (system on chip)來集成RF和高速度和低功耗特性，未來的物聯網(IoT)應該也是SOI的主流市場(無線通訊和低功耗)，只是制程瓶頸在于成本和復雜度。